Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур: сканирующая зондовая микроскопия. Часть 1 Учебное пособие

Bibliographic Details
Main Author: Филимонова, Нина Ивановна
Other Authors: Кольцов, Борис Борисович
Format: Book
Language:Russian
Published: Новосибирск Новосибирский государственный технический университет (НГТУ) 2013
Subjects:
Online Access:ЭБС Знаниум
ЭБС Знаниум
Перейти в каталог НТБ ТГАСУ