Уязвимости микропроцессорных реле защиты: проблемы и решения Учебно-методическая литература
Подробно рассмотрены проблемы уязвимости микропроцессорных устройств релейной защиты (МУРЗ) к естественным и преднамеренным деструктивным воздействиям включающим кибернетические и электромагнитные воздействия. Описаны современные технические средства с помощью которых могут осуществляться предн...
| Главный автор: | |
|---|---|
| Формат: | Книга |
| Язык: | Russian |
| Публикация: |
Вологда
Инфра-Инженерия
2022
|
| Редактирование: | 3 |
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | ЭБС Знаниум ЭБС Знаниум Перейти в каталог НТБ ТГАСУ |
