Уязвимости микропроцессорных реле защиты: проблемы и решения Учебно-методическая литература

Подробно рассмотрены проблемы уязвимости микропроцессорных устройств релейной защиты (МУРЗ) к естественным и преднамеренным деструктивным воздействиям включающим кибернетические и электромагнитные воздействия. Описаны современные технические средства с помощью которых могут осуществляться предн...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Гуревич, Владимир Игоревич
Format: Book
Language:Russian
Published: Вологда Инфра-Инженерия 2022
Edition:3
Subjects:
Online Access:ЭБС Знаниум
ЭБС Знаниум
Перейти в каталог НТБ ТГАСУ