Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов учебное пособие

В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химически...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Векилова, Г.В
Other Authors: Иванов, А.Н, Ягодкин, Ю.Д
Format: Book
Published: Москва МИСиС 2009
Subjects:
Online Access:ЭБС Консультант студента
Перейти в каталог НТБ ТГАСУ