Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем

Изложены описания основных современных методов исследования и диагностического оборудования для контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем. Раскрыты возможности этих методов. Показано, каким образом совместное ис...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Смирнов, С. В.
Format: Book
Language:Russian
Published: Москва ТУСУР 2010
Online Access:ЭБС Лань
ЭБС Лань
Перейти в каталог НТБ ТГАСУ