Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полуп...
Main Author: | |
---|---|
Other Authors: | |
Format: | Book |
Language: | Russian |
Published: |
Ульяновск
УлГТУ
2020
|
Edition: | 3-е изд., доп. и перераб. |
Online Access: | ЭБС Лань ЭБС Лань Перейти в каталог НТБ ТГАСУ |