Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полуп...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Горлов, М. И.
Other Authors: Сергеев, В. А.
Format: Book
Language:Russian
Published: Ульяновск УлГТУ 2020
Edition:3-е изд., доп. и перераб.
Online Access:ЭБС Лань
ЭБС Лань
Перейти в каталог НТБ ТГАСУ