Метод формирования тонких пленок с заданным стехиометрическим распределением состава по толщине
Published in: | Нанотехнологии: разработка, применение - XXI век vtls000162982 |
---|---|
Other Authors: | Комлев, А. Е., Вольпяс, В. А., Платонов, Р. А., Алтынников, А. Г., Козырев, А. Б. |
Format: | Article |
Language: | Russian |
Subjects: | |
Online Access: | Перейти в каталог НТБ ТГАСУ |
Similar Items
-
Физика и технология тонких пленок учебное пособие : [для студентов высших учебных заведений, обучающихся по специальности 210104 "Микроэлектроника и твердотельная электроника"]
by: Аверин, Игорь Александрович
Published: (2009) - Исследование тонких пленок дисульфида вольфрама, полученных магнетронным распылением наноструктурных мишеней
-
Исследование фазового состава тонких пленок диоксида титана, полученных среднечастотным дуальным магнетронным распылением
by: Сиделев, Д. В. -
Формирование композитных структур на поверхностях сложного профиля воздействием низкотемпературной плазмы комбинированного разряда
Published: (2022) - Thermal stability of the structure and optical properties of nanostructured TiO2 films