Механизмы отказов и надежность мощных СВЧ транзисторов: Реферативно-аналитический обзор: Обзоры по электрон. технике. Сер. 2"Полупроводн. приборы". Вып. 10(577)/

Bibliographic Details
Main Authors: Нечаев, А.М (Author), Рубаха, Е.А (Author), Синкевич, В.Ф (Author)
Corporate Author: Министерство электронной промышленности СССР
Format: Book
Language:Russian
Published: М.: ЦНИИ Электроника 1978
Online Access:Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР