Механизмы отказов и надежность мощных СВЧ транзисторов: Реферативно-аналитический обзор: Обзоры по электрон. технике. Сер. 2"Полупроводн. приборы". Вып. 10(577)/

Библиографическая информация
Главные авторы: Нечаев, А.М (Автор), Рубаха, Е.А (Автор), Синкевич, В.Ф (Автор)
Соавтор: Министерство электронной промышленности СССР
Формат: Книга
Язык:Russian
Публикация: М.: ЦНИИ Электроника 1978
Online-ссылка:Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР