Skip to content
  • Language
    • English
    • Русский

Advanced
  • Физические основы надежности к...
  • Cite this
  • Print
  • Export Record
    • Export to RefWorks
    • Export to EndNoteWeb
    • Export to EndNote
  • Permanent link
Физические основы надежности контактов металл-полупроводник в интегральной электронике: /

Физические основы надежности контактов металл-полупроводник в интегральной электронике: /

Bibliographic Details
Main Authors: Стриха, В. И. Виталий Илларионович (Author), Бузанева, Е. В. Евгения Викторовна (Author)
Format: Book
Published: М.: Радио и связь 1987
Subjects:
интегральная электроника
контакты металл-полупроводник
надежность
физические основы
Online Access:Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР
  • Holdings
  • Description
  • Similar Items
  • Staff View

Internet

Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР

Similar Items

  • Контакты металл - полупроводник: Пер. с англ./
    by: Родерик Эмвил Х.
    Published: (1982)
  • Контакты металл-полупроводник: физика и модели
    by: Божков, Владимир Григорьевич
    Published: (2016)
  • Низкочастотный шум в неоднородных контактах металл-полупроводник с барьером Шоттки
    by: Васильев, О. В.
  • Некоторые проблемы физики реальных контактов металл-полупроводник с барьером Шоттки
    by: Божков, Владимир Григорьевич
  • Электрофизические свойства квазиоднородных контактов Au-TiBx-GaAs
|   Advanced Search   |   Search Tips   |

Большой университет Томска
https://university-tomsk.ru/
Loading...