Skip to content
  • Language
    • English
    • Русский

Advanced
  • Измерения и контроль в микроэл...
  • Cite this
  • Print
  • Export Record
    • Export to RefWorks
    • Export to EndNoteWeb
    • Export to EndNote
  • Permanent link
Измерения и контроль в микроэлектронике: Учебное пособие для вузов/

Измерения и контроль в микроэлектронике: Учебное пособие для вузов/

Bibliographic Details
Main Authors: Дубовой, Н. Д. Николай Дмитриевич (Author), Осокин, В. И. Вячеслав Иванович (Author), Очков, А. С. Александр Сергеевич (Author), Бочкова, Т. В. Тамара Васильевна (Author), Орлов, Е. В. Евгений Васильевич (Author), Никулин, В. Б. Валентин Борисович (Author)
Other Authors: Сазонов, А. А. (Editor)
Format: Book
Published: М.: Высшая школа 1984
Subjects:
учебные пособия
микроэлектроника
измерения
контроль
Online Access:Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР
  • Holdings
  • Description
  • Similar Items
  • Staff View

Internet

Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР

Similar Items

  • Электронные измерения в нанотехнологиях и в микроэлектронике: монография/
    by: Афонский, А. А., et al.
    Published: (2012)
  • Диэлектрические пленки в твердотельной микроэлектронике: научное издание/
    by: Румак Николай Владимирович, et al.
    Published: (1990)
  • Материаловедение в микроэлектронике: /
    by: Палатник, Л. С. Лев Самойлович, et al.
    Published: (1978)
  • Линейные измерения микрометрового и нанометрового диапазонов в микроэлектронике и нанотехнологии
    Published: (2006)
  • Обработка монокристаллов в микроэлектронике: /
    by: Карбань, В. И. Валерий Иванович, et al.
    Published: (1988)
|   Advanced Search   |   Search Tips   |

Большой университет Томска
https://university-tomsk.ru/
Loading...