Пропуск в контексте
  • Язык
    • English
    • Русский

Расширенный поиск
  • Поиск
  • Измерения и контроль в микроэл...
  • Цитировать
  • Печать
  • Запись для экспорта
    • Экспорт в RefWorks
    • Экспорт в EndNoteWeb
    • Экспорт в EndNote
  • Permanent link
Измерения и контроль в микроэлектронике: Учебное пособие для вузов/

Измерения и контроль в микроэлектронике: Учебное пособие для вузов/

Библиографическая информация
Главные авторы: Дубовой, Н. Д. Николай Дмитриевич (Автор), Осокин, В. И. Вячеслав Иванович (Автор), Очков, А. С. Александр Сергеевич (Автор), Бочкова, Т. В. Тамара Васильевна (Автор), Орлов, Е. В. Евгений Васильевич (Автор), Никулин, В. Б. Валентин Борисович (Автор)
Другие авторы: Сазонов, А. А. (Редактор)
Формат: Книга
Публикация: М.: Высшая школа 1984
Предметы:
учебные пособия
микроэлектроника
измерения
контроль
Online-ссылка:Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР
  • Фонды
  • Описание
  • Похожие документы
  • Marc-запись

Internet

Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР

Похожие документы

  • Электронные измерения в нанотехнологиях и в микроэлектронике: монография/
    по: Афонский, А. А., et al.
    Публикация: (2012)
  • Диэлектрические пленки в твердотельной микроэлектронике: научное издание/
    по: Румак Николай Владимирович, et al.
    Публикация: (1990)
  • Материаловедение в микроэлектронике: /
    по: Палатник, Л. С. Лев Самойлович, et al.
    Публикация: (1978)
  • Линейные измерения микрометрового и нанометрового диапазонов в микроэлектронике и нанотехнологии
    Публикация: (2006)
  • Обработка монокристаллов в микроэлектронике: /
    по: Карбань, В. И. Валерий Иванович, et al.
    Публикация: (1988)
|   Расширенный поиск   |   Советы для поиска   |

Большой университет Томска
https://university-tomsk.ru/
Загрузка...