Проблемы линейных измерений микрообъектов в нанометровом и субмикронном диапазонах/

Библиографическая информация
Соавтор: Институт общей физики21 Российская Академия наук
Другие авторы: Раков, А. В. (Редактор)
Формат: Книга
Язык:Russian
Публикация: М.: Наука 1995
Серии:Труды ИОФАН; Т.49
Предметы:
Online-ссылка:Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР