Пропуск в контексте
  • Язык
    • English
    • Русский

Расширенный поиск
  • Поиск
  • Проблемы линейных измерений...
  • Цитировать
  • Печать
  • Запись для экспорта
    • Экспорт в RefWorks
    • Экспорт в EndNoteWeb
    • Экспорт в EndNote
  • Permanent link
Проблемы линейных измерений микрообъектов в нанометровом и субмикронном диапазонах/

Проблемы линейных измерений микрообъектов в нанометровом и субмикронном диапазонах/

Библиографическая информация
Соавтор: Институт общей физики21 Российская Академия наук
Другие авторы: Раков, А. В. (Редактор)
Формат: Книга
Язык:Russian
Публикация: М.: Наука 1995
Серии:Труды ИОФАН; Т.49
Предметы:
электронная микроскопия
сканирующая туннельная микроскопия
растровая электронная микроскопия
электронные микроскопы
линейные измерения
микрообъекты
Online-ссылка:Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР
  • Фонды
  • Описание
  • Похожие документы
  • Marc-запись

Internet

Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР

Похожие документы

  • Справочник по микроскопии для нанотехнологии пер. с англ.
    Публикация: (2011)
  • Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур: Учебное пособие для вузов/
    по: Рыков Сергей Александрович
    Публикация: (2001)
  • Линейные измерения микрометрового и нанометрового диапазонов в микроэлектронике и нанотехнологии
    Публикация: (2006)
  • Основы сканирующей зондовой микроскопии учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений
    по: Миронов, Валерий Леонидович 1939-2023
    Публикация: (2005)
  • Электронная микроскопия в цитологических исследованиях [методическое пособие для студентов 4-го курса биологического отделения факультета естественных наук, проходящих практикум по электронной микроскопии в рамках "Большого цитологического практикума"]
    по: Морозова, Ксения Николаевна
    Публикация: (2013)
|   Расширенный поиск   |   Советы для поиска   |

Большой университет Томска
https://university-tomsk.ru/
Загрузка...