Определение ширины запрещенной зоны полупроводникового материала методом экстракции неосновных носителей: руководство к лабораторной работе по дисциплине "Физические основы электронной техники" для студентов специальности 0611 и 0612/

Похожие документы

• Измерение контактной разности потенциалов: руководство к лабораторной работе по дисциплине "Физические основы электронной техники" для студентов специальности 0611 "Электронные приборы" и 0612 "Промышленная электроника"/
  по: Шангин, А. С. Александр Сергеевич
  Публикация: (1987)
• AFM study of charging of the Au-n-GaAs contact
  по: Shmargunov, A. V.
• Распределение поверхностного потенциала на гетерогранице AlxGa1-xAs
  по: Брудный, Павел Александрович
• Electrical properties of the V-defects of epitaxial HgCdTe
• Введение в теоретическую физику
  по: Планк, Макс 1858-1947
  Публикация: (2004)