APA Цитирование

Сих, М. П., Бриггс, Д., Ривьер, Д. К., Хофман, С., Олсон, Р. Р., Раховский, В. И. В. И., & Рез, И. С. (1987). Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: Монография : Пер. с англ. Мир.

Chicago-стиль цитирования

Сих, М. П., Д Бриггс, Дж. К Ривьер, С Хофман, Р. Р Олсон, В. И. Вадим Израилевич Раховский, and И. С Рез. Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: Монография : Пер. с англ. М.: Мир, 1987.

MLA-цитирование

Сих, М. П., et al. Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: Монография : Пер. с англ. Мир, 1987.