Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: Монография : Пер. с англ./

Bibliographic Details
Main Authors:	Сих, М. П. (Editor), Бриггс, Д. (Editor), Ривьер, Дж. К. (Author), Хофман, С. (Author), Олсон, Р. Р. (Author)
Other Authors:	Раховский, В. И. Вадим Израилевич (Translator), Рез, И. С. (Translator)
Format:	Book
Language:	Russian
Published:	М.: Мир 1987
Subjects:	поверхностные явления анализ спектрометрические измерения фотоэлектронные приборы рентгенодиагностика оже-спектроскопия спектроскопия рентгеноэлектронная спектроскопия
Online Access:	Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР

Similar Items