Skip to content
  • Language
    • English
    • Русский

Advanced
  • Измерение подвижности носителе...
  • Cite this
  • Print
  • Export Record
    • Export to RefWorks
    • Export to EndNoteWeb
    • Export to EndNote
  • Permanent link
Измерение подвижности носителей заряда: Руководство к лабораторной работе по курсу "Физические основы микроэлектроники" для студентов специальностей 210201 и 210202/

Измерение подвижности носителей заряда: Руководство к лабораторной работе по курсу "Физические основы микроэлектроники" для студентов специальностей 210201 и 210202/

Bibliographic Details
Main Authors: Несмелов, Н. С. Николай Сергеевич (Author), Славникова, М. М. Марина Михайловна (Author)
Corporate Author: Федеральное агентство по образованию21 Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники21 Кафедра конструирования узлов и деталей РЭА
Format: Book
Published: Томск: ТУСУР 2007
Subjects:
учебные пособия
лабораторные работы
микроэлектроника
физические основы
носители заряда
полупроводники
подвижность носителей заряда
измерения
Online Access:Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР
  • Holdings
  • Description
  • Similar Items
  • Staff View

Internet

Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР

Similar Items

  • Определение диффузионной длины и времени жизни неравновесных носителей заряда: Руководство к лабораторной работе по курсу "Физические основы микроэлектроники" для студентов специальностей 210201 и 210202/
    by: Несмелов, Н. С. Николай Сергеевич, et al.
    Published: (2007)
  • Подвижность носителей заряда в OLED структурах с излучающими слоями ЯК-203 и Alq3
  • Исследование фотопроводимости полупроводников и определение релаксационного времени жизни неравновесных носителей заряда: Руководство к лабораторной работе по курсу "Физические основы микроэлектроники" для студентов специальностей 210201 и 210202/
    by: Несмелов, Н. С. Николай Сергеевич, et al.
    Published: (2007)
  • Определение времени жизни носителей заряда методом модуляции проводимости: Руководство к лабораторной работе по курсу "Физические основы микроэлектроники" для студентов специальностей 210201 и 210202/
    by: Несмелов, Н. С. Николай Сергеевич, et al.
    Published: (2007)
  • Исследование электрофизических свойств пленок ITO
|   Advanced Search   |   Search Tips   |

Большой университет Томска
https://university-tomsk.ru/
Loading...