Методы исследования материалов и структур электроники: Учебное пособие/
| Main Author: | Смирнов, С. В. Серафим Всеволодович (Author) |
|---|---|
| Corporate Author: | Федеральное агентство по образованию21 Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники |
| Format: | Book |
| Published: |
Томск:
ТУСУР
2007
|
| Series: | Приоритетные национальные проекты. Образование
|
| Subjects: | |
| Online Access: | Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР |
Similar Items
-
Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем: учебное пособие/
by: Смирнов, С. В. Серафим Всеволодович
Published: (2010) -
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: Монография : Пер. с англ./
by: Сих, М. П., et al.
Published: (1987) -
Физические методы исследования объектов окружающей среды: Учебное пособие /
by: Смирнов, Г. В. Геннадий Васильевич, et al.
Published: (2007) -
Методы анализа поверхностей
Published: (1979) -
Методы исследования материалов и структур электроники: Лабораторный практикум для студентов специальности 210104 "Микроэлектроника и твердотельная электроника"/
by: Смирнов, С. В. Серафим Всеволодович
Published: (2007)
