Методы исследования материалов и структур электроники: Учебное пособие/
| Главный автор: | Смирнов, С. В. Серафим Всеволодович (Автор) |
|---|---|
| Соавтор: | Федеральное агентство по образованию21 Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники |
| Формат: | Книга |
| Публикация: |
Томск:
ТУСУР
2007
|
| Серии: | Приоритетные национальные проекты. Образование
|
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР |
Похожие документы
-
Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем: учебное пособие/
по: Смирнов, С. В. Серафим Всеволодович
Публикация: (2010) -
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: Монография : Пер. с англ./
по: Сих, М. П., et al.
Публикация: (1987) -
Физические методы исследования объектов окружающей среды: Учебное пособие /
по: Смирнов, Г. В. Геннадий Васильевич, et al.
Публикация: (2007) -
Методы анализа поверхностей
Публикация: (1979) -
Методы исследования материалов и структур электроники: Лабораторный практикум для студентов специальности 210104 "Микроэлектроника и твердотельная электроника"/
по: Смирнов, С. В. Серафим Всеволодович
Публикация: (2007)
