Исследование электрически активных дефектов в полупроводниках с применением средств автоматизации: Учебно-методическое пособие для группового проектного обучения студентов специальности 210105 "Электронные приборы и устройства"/
| Main Author: | Давыдов, В. Н. Валерий Николаевич (Author) |
|---|---|
| Corporate Author: | Федеральное агентство по образованию21 Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники21 Кафедра электронных приборов |
| Format: | Book |
| Published: |
Томск:
ТУСУР
2007
|
| Subjects: | |
| Online Access: | Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР |
Similar Items
-
Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках
by: Вавилов, Виктор Сергеевич, et al.
Published: (1981) -
Термодинамика и кинетика взаимодействующих дефектов в полупроводниках
by: Булярский, Сергей Викторович
Published: (1997) -
Лазерные методы исследований дефектов в полупроводниках и диэлектриках
Published: (1986) -
Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках
by: Вавилов, Виктор Сергеевич
Published: (1981) -
Влияние дефектов структуры на мартенситные превращения в системах с низкими упругими модулями Диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук. 01.04.07
by: Кулагина, Валентина Васильевна
Published: (1998)
