Исследование электрически активных дефектов в полупроводниках с применением средств автоматизации: Учебно-методическое пособие для группового проектного обучения студентов специальности 210105 "Электронные приборы и устройства"/
| Главный автор: | Давыдов, В. Н. Валерий Николаевич (Автор) |
|---|---|
| Соавтор: | Федеральное агентство по образованию21 Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники21 Кафедра электронных приборов |
| Формат: | Книга |
| Публикация: |
Томск:
ТУСУР
2007
|
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР |
Похожие документы
-
Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках
по: Вавилов, Виктор Сергеевич, et al.
Публикация: (1981) -
Термодинамика и кинетика взаимодействующих дефектов в полупроводниках
по: Булярский, Сергей Викторович
Публикация: (1997) -
Лазерные методы исследований дефектов в полупроводниках и диэлектриках
Публикация: (1986) -
Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках
по: Вавилов, Виктор Сергеевич
Публикация: (1981) -
Влияние дефектов структуры на мартенситные превращения в системах с низкими упругими модулями Диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук. 01.04.07
по: Кулагина, Валентина Васильевна
Публикация: (1998)
