Внутреннее трение и дефекты в полупроводниках: научное издание/

Bibliographic Details
Main Authors:	Александров, Л. Н. Леонид Наумович (Author), Зотов, М. И. Михаил Иванович (Author)
Corporate Author:	Академия наук СССР Сибирское отделение. Институт физики полупроводников
Format:	Book
Published:	Новосибирск: Наука 1979
Subjects:	ТВЕРДОТЕЛЬНАЯ ЭЛЕКТРОНИКА МОДЕЛИРОВАНИЕ МАТЕМАТИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ
Online Access:	Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР

Similar Items