Внутреннее трение и дефекты в полупроводниках: научное издание/

Библиографическая информация
Главные авторы:	Александров, Л. Н. Леонид Наумович (Автор), Зотов, М. И. Михаил Иванович (Автор)
Соавтор:	Академия наук СССР Сибирское отделение. Институт физики полупроводников
Формат:	Книга
Публикация:	Новосибирск: Наука 1979
Предметы:	ТВЕРДОТЕЛЬНАЯ ЭЛЕКТРОНИКА МОДЕЛИРОВАНИЕ МАТЕМАТИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ
Online-ссылка:	Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР

Похожие документы