Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем: учебное пособие/
| Главный автор: | Смирнов, С. В. Серафим Всеволодович (Автор) |
|---|---|
| Соавтор: | Министерство образования и науки Российской Федерации21 Государственная корпорация "Российская корпорация нанотехнологий"21 Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники |
| Формат: | Книга |
| Публикация: |
Томск:
ТУСУР
2010
|
| Серии: | Образовательная программа переподготовки
|
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР |
Похожие документы
-
Зондирующие методы исследований в материаловедении учебное пособие : [для студентов старших курсов университетов по направлениям подготовки бакалавров и магистров "Материаловедение и технология материалов", "Электроника и наноэлектроника", аспирантов по специальности "Физика конденсированного состояния"]
по: Карпасюк, Владимир Корнильевич
Публикация: (2014) -
Методы исследования материалов и структур электроники: Учебное пособие/
по: Смирнов, С. В. Серафим Всеволодович
Публикация: (2007) -
Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем: лабораторный практикум/
по: Смирнов, С. В. Серафим Всеволодович
Публикация: (2010) -
Фотоэлектронная и Оже-спектроскопия
по: Карлсон, Томас А.
Публикация: (1981) -
Spectroscopy of polymers
по: Koenig, Jack L.
Публикация: (1999)
