Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем: учебное пособие/
| Main Author: | Смирнов, С. В. Серафим Всеволодович (Author) |
|---|---|
| Corporate Author: | Министерство образования и науки Российской Федерации21 Государственная корпорация "Российская корпорация нанотехнологий"21 Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники |
| Format: | Book |
| Published: |
Томск:
ТУСУР
2010
|
| Series: | Образовательная программа переподготовки
|
| Subjects: | |
| Online Access: | Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР |
Similar Items
-
Зондирующие методы исследований в материаловедении учебное пособие : [для студентов старших курсов университетов по направлениям подготовки бакалавров и магистров "Материаловедение и технология материалов", "Электроника и наноэлектроника", аспирантов по специальности "Физика конденсированного состояния"]
by: Карпасюк, Владимир Корнильевич
Published: (2014) -
Методы исследования материалов и структур электроники: Учебное пособие/
by: Смирнов, С. В. Серафим Всеволодович
Published: (2007) -
Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем: лабораторный практикум/
by: Смирнов, С. В. Серафим Всеволодович
Published: (2010) -
Фотоэлектронная и Оже-спектроскопия
by: Карлсон, Томас А.
Published: (1981) -
Spectroscopy of polymers
by: Koenig, Jack L.
Published: (1999)
