Skip to content
  • Language
    • English
    • Русский

Advanced
  • Методы измерения параметров по...
  • Cite this
  • Print
  • Export Record
    • Export to RefWorks
    • Export to EndNoteWeb
    • Export to EndNote
  • Permanent link
Методы измерения параметров полупроводниковых материалов: учебник/

Методы измерения параметров полупроводниковых материалов: учебник/

Bibliographic Details
Main Author: Павлов, Л. П. Лев Павлович (Author)
Format: Book
Published: М.: Высшая школа 1987
Edition:2-е изд., перераб. и доп.
Subjects:
УЧЕБНИКИ
УДЕЛЬНОЕ СОПРОТИВЛЕНИЕ
МАГНИТОСОПРОТИВЛЕНИЕ
НЕРАВНОВЕСНЫЕ НОСИТЕЛИ
ЗАРЯДЫ
ФОТОПРОВОДИМОСТЬ
ФОТОТОК
ФАРАДЕЯ ЭФФЕКТ
ДИФФУЗИИ
СВЕТОВЫЕ ЛУЧИ
Online Access:Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР
  • Holdings
  • Description
  • Similar Items
  • Staff View

Internet

Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР

Similar Items

  • Методы измерения параметров полупроводниковых материалов [учебник для вузов по специальности "Полупроводниковые и микроэлектронные приборы"]
    by: Павлов, Лев Павлович
    Published: (1987)
  • Измерения параметров полупроводниковых материалов
    by: Ковтонюк, Николай Филиппович
    Published: (1970)
  • Прибор для комплексного метода измерения удельного сопротивления полупроводниковых материалов
  • Коаксиальный СВЧ преобразователь для измерения электрофизических свойств полупроводниковых и диэлектрических материалов
    by: Лейсле, Дарья Андреевна
  • Исследование фотопроводимости полупроводников и определение релаксационного времени жизни неравновесных носителей заряда: Руководство к лабораторной работе по курсу "Физические основы микроэлектроники" для студентов специальностей 210201 и 210202/
    by: Несмелов, Н. С. Николай Сергеевич, et al.
    Published: (2007)
|   Advanced Search   |   Search Tips   |

Большой университет Томска
https://university-tomsk.ru/
Loading...