Self-powered photo diodes based on Ga2O3/n-GaAs structures
The electrical and photovoltaic characteristics of the Ga2O3/n-GaAs structures have been studied. A gallium oxide film was obtained by HF magnetron sputtering on n-GaAs epitaxial layers with concentration of N_d=9.5·1014 cm-3. The thickness of the oxide film was 120 nm. Measurements at a frequency o...
| Опубликовано в: : | Semiconductors Vol. 56, № 9. P. 707-711 |
|---|---|
| Другие авторы: | Kalygina, Vera M., Kiselyeva, O. S., Kushnarev, Bogdan O., Oleinik, Vladimir L., Petrova, Julianna S., Tsymbalov, Alexander V. |
| Формат: | Статья в журнале |
| Язык: | English |
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001016318 |
Похожие документы
- Исследование электрических характеристик GaAs–Ga2O3-структур
- Фотодиоды на основе структур Ga2O3/n-GaAs, способные работать в автономном режиме
-
Self-consistent calculation of capacitance-voltage profiles of delta-doped GaAs structures. Theory and experiment
по: Gurtovoi, V. L. - Механизмы протекания тока в светодиодах на основе InGaN/GaN
- Влияние типа подложки на фотоэлектрические характеристики структур Ga2O3/GaAs
