Dependence of Ge/Si avalanche photodiode performance on the thickness and doping concentration of the multiplication and absorption layers
In this article, the performance and design considerations of the planar structure of germanium on silicon avalanche photodiodes are presented. The dependences of the breakdown voltage, gain, andwidth, responsivity, and quantum efficiency on the reverse bias voltage for different doping concentratio...
| Опубликовано в: : | Inorganics Vol. 11, № 7. P. 303 (1-15) |
|---|---|
| Другие авторы: | Deeb, Hazem, Khomyakova, Kristina I., Kokhanenko, Andrey P., Douhan, Rahaf M. H., Lozovoy, Kirill A. |
| Формат: | Статья в журнале |
| Язык: | English |
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001067502 Перейти в каталог НБ ТГУ |
Похожие документы
-
Расчет характеристик лавинных фотодиодов Ge/Si на длину волны 850 нм
по: Диб, Хазем - Ge/Si avalanche photodiodes dark current
-
Analysis of the nBn-type barrier structures for infrared photodiode detectors
по: Voytsekhovskiy, Alexander V. -
Некоторые характеристики светочувствительных полупроводниковых структур с лавинным умножением/
по: Осадчий, В.И, et al.
Публикация: (1968) -
Твердотельная фотоэлектроника. Фотодиоды: учебное пособие для вузов/
по: Филачёв, А. М. Анатолий Михайлович, et al.
Публикация: (2011)
