Исследование многокомпонентных наноструктурных (Ti–Zr–Hf–V–Nb)N покрытий ядерно-физическими методами анализа до и после термического отжига
С помощью различных взаимодополняющих методов элементно-структурного анализа, таких, как медленный пучок позитронов (SPB), микропучок протонов (μ-PIXE), микро- и нанопучок электронов (EDS- и SEM-анализ), метод фазово-структурного анализа XRD, метод «a – sin2ϕ» измерений напряженно-деформированного с...
| Опубликовано в: : | Известия высших учебных заведений. Физика Т. 56, № 5. С. 41-50 |
|---|---|
| Другие авторы: | , , , , |
| Формат: | Статья в журнале |
| Язык: | Russian |
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001140246 |