Рост эпитаксиальных пленок SiSn с высоким содержанием Sn для преобразователей в ИК-области

Проведены исследования роста соединений SiSn с содержанием Sn от 10 до 35 %. Изучена морфология и структура поверхности слоев SiSn, а также установлена кинетическая диаграмма морфологического состояния пленок SiSn в диапазоне температур 150-450 °С. При росте пленок SiSn от 150 до 300 °С наблюдались...

Полное описание

Библиографическая информация
Опубликовано в: :Известия высших учебных заведений. Физика Т. 60, № 2. С. 135-140
Другие авторы: Тимофеев, Вячеслав Алексеевич, Никифоров, Александр Иванович, Коханенко, Андрей Павлович, Туктамышев, Артур Раисович, Машанов, Владимир Иванович, Лошкарев, Иван Дмитриевич, Новиков, Вадим Александрович
Формат: Статья в журнале
Язык:Russian
Предметы:
Online-ссылка:http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001141916
Перейти в каталог НБ ТГУ
LEADER 03337nab a2200373 c 4500
001 koha001141916
005 20241128121848.0
007 cr |
008 240628|2017 ru s c rus d
035 |a koha001141916 
040 |a RU-ToGU  |b rus  |c RU-ToGU 
245 1 0 |a Рост эпитаксиальных пленок SiSn с высоким содержанием Sn для преобразователей в ИК-области  |c В. А. Тимофеев, А. И. Никифоров, А. П. Коханенко [и др.] 
336 |a Текст 
337 |a электронный 
504 |a Библиогр.: 24 назв. 
520 3 |a Проведены исследования роста соединений SiSn с содержанием Sn от 10 до 35 %. Изучена морфология и структура поверхности слоев SiSn, а также установлена кинетическая диаграмма морфологического состояния пленок SiSn в диапазоне температур 150-450 °С. При росте пленок SiSn от 150 до 300 °С наблюдались осцилляции зеркального рефлекса. Впервые выращены многослойные периодические структуры SiSn/Si с псевдоморфными монокристаллическими слоями SiSn с содержанием Sn от 10 до 25 %. Выявлены сверхструктуры c(8×4) и (5×1) при росте Si на слое SiSn и определены условия формирования желаемой структуры поверхности Si путем контроля температуры роста. Из кривых дифракционного отражения определен параметр решетки, состав SiSn и период в многослойной периодической структуре, которые с высокой точностью соответствуют заданным значениям. 
653 |a олово 
653 |a эпитаксиальные пленки 
653 |a экспериментальные исследования 
655 4 |a статьи в журналах  |9 967179 
700 1 |a Тимофеев, Вячеслав Алексеевич  |9 395169 
700 1 |a Никифоров, Александр Иванович  |9 395171 
700 1 |a Коханенко, Андрей Павлович  |9 65555 
700 1 |a Туктамышев, Артур Раисович  |9 552781 
700 1 |a Машанов, Владимир Иванович  |9 502072 
700 1 |a Лошкарев, Иван Дмитриевич  |9 400932 
700 1 |a Новиков, Вадим Александрович  |9 83069 
773 0 |t Известия высших учебных заведений. Физика  |d 2017  |g Т. 60, № 2. С. 135-140  |x 0021-3411  |w 0026-80960 
852 4 |a RU-ToGU 
856 4 |u http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001141916 
856 |y Перейти в каталог НБ ТГУ  |u https://koha.lib.tsu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=1141916 
908 |a статья 
999 |c 1141916  |d 1141916 
039 |b 100