Резонансные характеристики отрезков микропровода как элементов композиционных материалов
Методом открытого квазиоптического резонатора в полосе частот от 8.2 до 15.5 ГГц проведены исследования полуволнового резонанса сверхтонких проводников, полученных с помощью различных технологий. Проведено сопоставление измеренных данных с расчетными. Показано, что для остеклованного микропровода и...
| Опубликовано в: : | Известия высших учебных заведений. Физика Т. 59, № 12. С. 88-94 |
|---|---|
| Главный автор: | |
| Другие авторы: | |
| Формат: | Статья в журнале |
| Язык: | Russian |
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001142184 |