Резонансные характеристики отрезков микропровода как элементов композиционных материалов
Методом открытого квазиоптического резонатора в полосе частот от 8.2 до 15.5 ГГц проведены исследования полуволнового резонанса сверхтонких проводников, полученных с помощью различных технологий. Проведено сопоставление измеренных данных с расчетными. Показано, что для остеклованного микропровода и...
| Published in: | Известия высших учебных заведений. Физика Т. 59, № 12. С. 88-94 |
|---|---|
| Main Author: | |
| Other Authors: | |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001142184 Перейти в каталог НБ ТГУ |
| Summary: | Методом открытого квазиоптического резонатора в полосе частот от 8.2 до 15.5 ГГц проведены исследования полуволнового резонанса сверхтонких проводников, полученных с помощью различных технологий. Проведено сопоставление измеренных данных с расчетными. Показано, что для остеклованного микропровода и фильерной микропроволоки, изготовленных из сплавов с удельным сопротивлением более 105 См/м величина измеренной резонансной длины меньше расчетной. Это, предположительно, связано с влиянием поверхности, в том числе наноструктурного переходного слоя микропровода. Также проведены измерения образцов микропровода из сплавов с естественным ферромагнитным резонансом. Показано, что длина полуволнового резонанса для них заметно больше, чем для проводников с близким значением удельной проводимости, но не обладающих магнитными свойствами. |
|---|---|
| Bibliography: | Библиогр.: 17 назв. |
| ISSN: | 0021-3411 |