Морфология поверхности и кристаллографические свойства пленок GaAs, выращенных методом МЛЭ на вицинальных подложках Si(001)
Published in: | Известия высших учебных заведений. Физика Т. 56, № 1. С. 49-54 |
---|---|
Corporate Authors: | Томский государственный университет Радиофизический факультет Кафедра квантовой электроники и фотоники, Томский государственный университет Физический факультет Кафедра физики полупроводников |
Other Authors: | Коханенко, Андрей Павлович, Пчеляков, Олег Петрович, Лошкарев, Иван Дмитриевич, Селезнев, Владимир Александрович, Путято, Михаил Альбертович, Семягин, Борис Рэмович, Преображенский, Валерий Владимирович, Zhicuan, Niu, Haiqiao, Ni, Емельянов, Евгений Александрович |
Format: | Article |
Language: | Russian |
Subjects: | |
Online Access: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000457994 |
Similar Items
- Исследование ростовых поверхностей вицинальных ᶲº(001) граней GaAs, выращенных МЛЭ при низкой температуре
- Сближение ступеней на поверхности Si(100): эксперимент и моделирование
- Controlling of Ge quantum dots arrays parameters in Ge/Si nanoheterostructures grown by molecular beam epitaxy method
-
Влияние температуры роста на статистические параметры морфологии поверхности GaN
by: Новиков, Вадим Александрович - Молекулярно-лучевая эпитаксия структур GaAs/Si(001) для высокоэффективных тандемных AIIIBV/Si-преобразователей солнечной энергии на активной кремниевой подложке