Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: Монография : Пер. с англ./

Bibliographic Details
Main Authors: Сих, М. П. (Editor), Бриггс, Д. (Editor), Ривьер, Дж. К. (Author), Хофман, С. (Author), Олсон, Р. Р. (Author)
Other Authors: Раховский, В. И. Вадим Израилевич (Translator), Рез, И. С. (Translator)
Format: Book
Language:Russian
Published: М.: Мир 1987
Subjects:
Online Access:Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР
LEADER 02198nam a2200397 i 4500
001 LibTUSUR0000039293
008 070801s1987 ru_aaaa l000 0yrus d
040 |a Библиотека ТУСУР  |b rus 
245 0 0 |a Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии:   |b Монография : Пер. с англ./  |c М. П. Сих [и др.] ; ред. : Д. Бриггс, М. П. Сих ; ред. пер. : В. И. Раховский, И. С. Рез 
260 |a М.:  |b Мир  |c 1987 
300 |a 598[2] с.:  |b a-граф. 
504 |a Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 589-592 
535 2 |a Библиотека ТУСУР  |d https://lib.tusur.ru 
653 0 |a поверхностные явления 
653 0 |a анализ 
653 0 |a спектрометрические измерения 
653 0 |a фотоэлектронные приборы 
653 0 |a рентгенодиагностика 
653 0 |a оже-спектроскопия 
653 0 |a спектроскопия 
653 0 |a рентгеноэлектронная спектроскопия 
852 |a Библиотека ТУСУР  |h 539.2  |i А 640  |p 235602  |b аунл 
852 |a Библиотека ТУСУР  |h 539.2  |i А 640  |p 235603  |b аунл 
852 |a Библиотека ТУСУР  |h 539.2  |i А 640  |p 235604  |b счз1 
852 |a Библиотека ТУСУР  |h 539.2  |i А 640  |p 236724  |b аунл 
080 |a 539.26 
700 1 |a Сих, М. П.  |4 aut 
700 1 |a Бриггс, Д.  |4 aut 
700 1 |a Ривьер, Дж. К.  |4 aut 
700 1 |a Хофман, С.  |4 aut 
700 1 |a Олсон, Р. Р.  |4 aut 
700 1 |a Бриггс, Д.  |4 edt 
700 1 |a Сих, М. П.  |4 edt 
700 1 |a Раховский, В. И.  |q Вадим Израилевич  |4 trl 
700 1 |a Рез, И. С.  |4 trl 
856 |y Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР  |u https://lib.tusur.ru/irbis-new/i64r_15/cgiirbis_64.exe?Z21ID=&P21DBN=LIB&I21DBN=LIB&S21FMT=fullwebr&C21COM=S&2_S21P02=0&2_S21P03=I=&2_S21STR=539.2/А 640-059069