Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: Монография : Пер. с англ./

Библиографическая информация
Главные авторы:	Сих, М. П. (Редактор), Бриггс, Д. (Редактор), Ривьер, Дж. К. (Автор), Хофман, С. (Автор), Олсон, Р. Р. (Автор)
Другие авторы:	Раховский, В. И. Вадим Израилевич (Переводчик), Рез, И. С. (Переводчик)
Формат:	Книга
Язык:	Russian
Публикация:	М.: Мир 1987
Предметы:	поверхностные явления анализ спектрометрические измерения фотоэлектронные приборы рентгенодиагностика оже-спектроскопия спектроскопия рентгеноэлектронная спектроскопия
Online-ссылка:	Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР

Похожие документы