Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: Монография : Пер. с англ./

Bibliographic Details
Main Authors: Сих, М. П. (Editor), Бриггс, Д. (Editor), Ривьер, Дж. К. (Author), Хофман, С. (Author), Олсон, Р. Р. (Author)
Other Authors: Раховский, В. И. Вадим Израилевич (Translator), Рез, И. С. (Translator)
Format: Book
Language:Russian
Published: М.: Мир 1987
Subjects:
Online Access:Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР

Similar Items