Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: Монография : Пер. с англ./
| Main Authors: | Сих, М. П. (Editor), Бриггс, Д. (Editor), Ривьер, Дж. К. (Author), Хофман, С. (Author), Олсон, Р. Р. (Author) |
|---|---|
| Other Authors: | Раховский, В. И. Вадим Израилевич (Translator), Рез, И. С. (Translator) |
| Format: | Book |
| Language: | Russian |
| Published: |
М.:
Мир
1987
|
| Subjects: | |
| Online Access: | Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР |
Similar Items
-
Фотоэлектронная и Оже-спектроскопия
by: Карлсон, Томас А.
Published: (1981) -
Валентные электронные уровни химических соединений (по данным фотоэлектронной, рентгеноэлектронной и рентгеновской спектроскопии)
by: Нефедов, Вадим Иванович
Published: (1975) -
Научные школы рентгеновской и рентгеноэлектронной спектроскопии России монография
Published: (2015) -
Многоэлектронные Оже-эффекты в атомах диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 01.04.02
by: Килин, Виктор Андреевич
Published: (1985) -
Методы исследования материалов и структур электроники: Учебное пособие/
by: Смирнов, С. В. Серафим Всеволодович
Published: (2007)
