Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: Монография : Пер. с англ./
| Главные авторы: | Сих, М. П. (Редактор), Бриггс, Д. (Редактор), Ривьер, Дж. К. (Автор), Хофман, С. (Автор), Олсон, Р. Р. (Автор) |
|---|---|
| Другие авторы: | Раховский, В. И. Вадим Израилевич (Переводчик), Рез, И. С. (Переводчик) |
| Формат: | Книга |
| Язык: | Russian |
| Публикация: |
М.:
Мир
1987
|
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | Перейти в каталог Библиотеки ТУСУР |
Похожие документы
-
Фотоэлектронная и Оже-спектроскопия
по: Карлсон, Томас А.
Публикация: (1981) -
Валентные электронные уровни химических соединений (по данным фотоэлектронной, рентгеноэлектронной и рентгеновской спектроскопии)
по: Нефедов, Вадим Иванович
Публикация: (1975) -
Научные школы рентгеновской и рентгеноэлектронной спектроскопии России монография
Публикация: (2015) -
Многоэлектронные Оже-эффекты в атомах диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 01.04.02
по: Килин, Виктор Андреевич
Публикация: (1985) -
Методы исследования материалов и структур электроники: Учебное пособие/
по: Смирнов, С. В. Серафим Всеволодович
Публикация: (2007)
